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龙图腾网获悉深圳市易仓科技有限公司申请的专利一物一码全生命周期追踪系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120822971B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510910966.7，技术领域涉及：G06Q30/018；该发明授权一物一码全生命周期追踪系统是由方昱凡;陈文龙;王海刚设计研发完成，并于2025-07-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一物一码全生命周期追踪系统在说明书摘要公布了：本发明涉及智能制造技术领域，尤其涉及一物一码全生命周期追踪系统。所述系统包括图像绑定模块、商品自动化入库模块、安全货架识别模块、商品全生命周期追踪模块；获取商品生产数据；根据商品生产数据生成商品唯一序列号；基于商品唯一序列号进行图像采集，得到商品序列号图像；根据商品序列号图像进行标签褶皱检测，得到标签褶皱数据；基于标签褶皱数据进行标签断裂评估，得到标签断裂数据，并基于标签断裂数据优化标签生产工艺，得到标签优化数据；基于标签优化数据进行商品自动化入库模拟，得到商品自动化入库数据；根据商品自动化入库数据进行库存动态管理，得到库存动态管理数据。本发明基于智能制造技术提高商品管理精度与出入库效率。

本发明授权一物一码全生命周期追踪系统在权利要求书中公布了：1.一物一码全生命周期追踪系统，其特征在于，包括以下模块： 图像绑定模块，用于获取商品生产数据；根据商品生产数据生成商品唯一序列号；基于商品唯一序列号进行图像采集，得到商品序列号图像； 商品自动化入库模块，用于根据商品序列号图像进行标签褶皱检测，得到标签褶皱数据，包括： 根据商品序列号图像识别序列号字符轮廓； 基于序列号字符轮廓计算字符线条变形率； 根据字符线条变形率进行标签翘边检测，得到标签翘边数据； 基于标签翘边数据进行激光三维轮廓采集，得到标签翘边三维轮廓； 基于标签翘边三维轮廓计算剪切应力，得到剪切应力数据； 基于剪切应力数据识别剪切应力集中区域； 根据剪切应力集中区域预测皱折走向，得到皱折走向数据； 基于皱折走向数据进行标签褶皱检测，得到标签褶皱数据； 基于标签褶皱数据进行标签断裂评估，得到标签断裂数据，并基于标签断裂数据优化标签生产工艺，得到标签优化数据，包括： 基于标签褶皱数据检测材料纤维排列方向； 根据材料纤维排列方向计算方向偏移度； 根据方向偏移度进行材料纤维排列失衡判定，得到材料纤维排列失衡数据； 基于材料纤维排列失衡数据预测裂纹萌生点； 基于裂纹萌生点进行标签断裂评估，得到标签断裂数据； 根据标签断裂数据回溯模切轮廓位置； 基于模切轮廓位置计算刀模路径误差率；根据刀模路径误差率进行倒角结构参数优化，得到倒角结构优化参数； 基于模切轮廓位置计算刀模轨迹突变率；根据刀模轨迹突变率进行刀模轮廓线平滑度； 整合倒角结构优化参数以及刀模轮廓线平滑度，得到标签优化生产工艺数据； 基于标签优化生产工艺数据进行标签生产模拟，得到标签优化数据； 基于标签优化数据进行商品自动化入库模拟，得到商品自动化入库数据； 安全货架识别模块，用于根据商品自动化入库数据进行库存动态管理，得到库存动态管理数据；基于库存动态管理数据计算货架利用率；基于货架利用率识别货架焊接裂纹，得到货架裂纹数据；根据货架裂纹数据确定安全货架区域； 商品全生命周期追踪模块，根据安全货架区域进行商品出货路径分析，得到商品出货路径数据；基于商品出货路径数据进行商品发货模拟，得到商品发货数据；基于商品发货数据进行序列号校验，得到序列号校验数据，并传输至商品管理系统，以执行商品全生命周期追踪任务。

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