同方威视技术股份有限公司;清华大学赵博震获国家专利权
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龙图腾网获悉同方威视技术股份有限公司;清华大学申请的专利材料识别方法及材料识别装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119510463B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411745389.2，技术领域涉及：G01N23/203；该发明授权材料识别方法及材料识别装置是由赵博震;邹湘;谈林霞;王钧效;翟兴亮;李树伟;张文剑;李荐民设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本材料识别方法及材料识别装置在说明书摘要公布了：本公开提供了一种材料识别方法，包括：响应于辐射射线扫描目标对象，利用辐射探测器的多个探测器模块探测辐射射线信号，多个探测器模块布置在不同位置且射线信号通道相互独立；根据每个探测器模块探测到的辐射射线信号，计算每个探测器模块所在位置对应的N个射线指标，N为大于或等于1的整数；根据每个射线指标在不同位置的指标值，识别目标对象的材料。本公开还公开了一种材料识别装置。
本发明授权材料识别方法及材料识别装置在权利要求书中公布了：1.一种材料识别方法，包括： 响应于辐射射线扫描目标对象，利用辐射探测器的多个探测器模块探测辐射射线信号，所述多个探测器模块布置在不同位置且射线信号通道相互独立，至少两个探测器模块彼此的探测区域面积不同，各自的探测区域面积分别与各自的目标第一计数率相适配，所述辐射射线包括背散射射线，所述辐射探测器包括背散射探测器； 根据每个所述探测器模块探测到的所述辐射射线信号，计算每个所述探测器模块所在位置对应的N个射线指标，N为大于或等于1的整数； 根据每个所述射线指标的指标值在不同位置的空间分布差异，识别所述目标对象的材料。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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