清华大学深圳国际研究生院马辉获国家专利权
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龙图腾网获悉清华大学深圳国际研究生院申请的专利起偏器与检偏器配置优化方法及起偏检偏系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115272041B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210840465.2,技术领域涉及:G06T1/00;该发明授权起偏器与检偏器配置优化方法及起偏检偏系统是由马辉;胡峥;赵千皓;黄彤宇设计研发完成,并于2022-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本起偏器与检偏器配置优化方法及起偏检偏系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种起偏器与检偏器配置优化方法及起偏检偏系统,所述起偏器与检偏器配置优化方法包括如下步骤:调整起偏器的仪器矩阵W和检偏器的仪器矩阵A,使起偏器和检偏器仪器矩阵的等权重方差EWV最小,以实现针对高斯噪声的优化;且起偏器的仪器矩阵W和检偏器的仪器矩阵A每一行的和为0,使泊松噪声所引起的估计方差独立于样本,且估计方差达到最小值。本发明能够最大程度地抑制噪声,并使噪声的规律与样本独立,无论测量何种样本,噪声的分布规律都是相同的。
本发明授权起偏器与检偏器配置优化方法及起偏检偏系统在权利要求书中公布了:1.一种起偏器与检偏器配置优化方法,其特征在于,包括如下步骤: 调整起偏器的仪器矩阵W和检偏器的仪器矩阵A,使起偏器和检偏器仪器矩阵的等权重方差EWV最小,以实现针对高斯噪声的优化;且 起偏器的仪器矩阵W和检偏器的仪器矩阵A每一行的和为0,使泊松噪声所引起的估计方差独立于样本,且估计方差达到最小值; 其中,配置测量系统的起偏器以及检偏器,使其偏振态两两正交;随后搜索起偏器和检偏器仪器矩阵的最小等权重方差EWV;当起偏器和检偏器的仪器矩阵同时满足行和为0及最小EWV条件时,得到最优配置; 当起偏器和检偏器分别为一个旋转偏振片及一个旋转14波片时,使起偏器和检偏器偏振态两两正交的配置条件满足以下关系: 式中,为第一次测量配置的偏振片透光轴方向,为第一次测量配置的14波片快轴角方向,为第二次测量配置的偏振片透光轴方向,为第二次测量配置的14波片快轴角方向;所述方法通过偏振片调整起偏的主通光方向,再通过14波片实现特定偏振态的调制; 当起偏器和检偏器系统包括一个固定偏振片、一个旋转12波片及一个旋转14波片时,使起偏器和检偏器偏振态两两正交的配置条件满足以下关系: 式中,为第一次测量配置的12波片快轴角方向,为第一次测量配置的14波片快轴角方向,为第二次测量配置的12波片快轴角方向,为第二次测量配置的14波片快轴角方向; 所述方法的线偏振光方向的调制从单偏振片调制变成了固定偏振片加一个12波片,能够避免入射光不是理想的自然光时,转动偏振片导致的不同方向的线偏振光光强不一致的情况; 当起偏器和检偏器系统包括一个固定偏振片,两个全波延迟相位调制器件时,使起偏器和检偏器偏振态两两正交的配置条件满足以下关系: 式中,是第一次测量配置的第一个全波延迟相位调制器件的相位延迟,是其快轴角,是第一次测量配置的第二个全波延迟相位调制器件的相位延迟,是其快轴角,是第二次测量配置的第一个全波延迟相位调制器件的相位延迟,是第二次测量配置的第二个全波延迟相位调制器件的相位延迟;所述方法首先通过第一个全波延迟相位调制器件对偏振态在邦加球上的平面的圆上调制,随后借助第二个全波延迟相位调制器件得到目标偏振态。
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