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西湖大学文燎勇获国家专利权

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龙图腾网获悉西湖大学申请的专利一种光学谐振峰Q值调控方法及应用获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119376096B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411548711.2,技术领域涉及:G02B27/00;该发明授权一种光学谐振峰Q值调控方法及应用是由文燎勇;孙嘉诚;王旭东;闫思思设计研发完成,并于2024-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。

一种光学谐振峰Q值调控方法及应用在说明书摘要公布了:方法包括:1获取目标体系固有属性参数和或环境折射率变化值Δn;目标体系为多谐振耦合体系和或非对称BIC体系;2基于步骤1环境折射率变化值Δn和或所获得的固有属性参数构建算式;当所述目标体系为多谐振耦合体系时,构建谐振峰Qr值与环境折射率变化值Δn的关系式,本发明属于光学物理领域,尤其涉及一种光学谐振峰Q值调控方法及该方法的应用。所述当所述目标体系为非对称BIC体系时,根据非对称BIC体系的辐射品质因子规律式;3基于式1和式2进行计算并通过Qr值的计算结果和调节目的对环境折射率变化值Δn进行调节或改变不对称因子α以实现对Qr值的调控。本发明能通过环境折射率变化实现对Qr值的控制。

本发明授权一种光学谐振峰Q值调控方法及应用在权利要求书中公布了:1.一种光学谐振峰Q值调控方法,其特征在于, 所述方法包括: 1获取目标体系的固有属性参数和环境折射率变化值Δn; 所述目标体系为多谐振耦合体系和或非对称BIC体系; 所述多谐振耦合体系具有谐振子1和谐振子2,谐振子1的固有频率随Δn变大而红移,而谐振子2的固有频率不随Δn变化,零解耦状态下的谐振子1频率与谐振子2的频率相等,且谐振子1的固有损耗不随Δn变化,而谐振子2的固有损耗随Δn变大而变大; 所述非对称BIC体系包含有两种不同直径或高度或材料或空间位移的纳米颗粒超表面; 2基于步骤1环境折射率变化值Δn和所获得的固有属性参数构建其与关联Qr值; 当所述目标体系为多谐振耦合体系时,所获取的固有属性参数包括:耦合体系上能支频率ω,零解耦状态下谐振子2的初始衰减系数γ2’,谐振子1和谐振子2之间的耦合强度g,拉比劈裂ΩR,谐振子1的本征频率对环境折射率变化值Δn的灵敏度S1,谐振子2的本征频率对环境折射率变化值Δn的灵敏度S2,谐振子1的固有频率ω1,谐振子2的固有频率ω2,非辐射衰减系数γn; 构建谐振峰Qr值与环境折射率变化值Δn的关系式如下式1: 式1:; 式中:Qr为辐射品质因子,即谐振峰Qr值,ω为强耦合体系上能支频率,γ2’为零解耦状态下谐振子2的初始衰减系数,g为谐振子1和谐振子2之间的耦合强度,ΩR为拉比劈裂,Δn为环境折射率变化值,S1为谐振子1的本征频率对环境折射率变化值Δn的灵敏度,S2为谐振子2的本征频率对环境折射率变化值Δn的灵敏度,i为纯虚数且定义为i2=-1,ω1为谐振子1的固有频率,ω2为谐振子2的固有频率,γn为非辐射衰减系数; 当所述目标体系为非对称BIC体系时,所获取的固有属性参数包括:不对称因子α; 根据下式非对称BIC体系的辐射品质因子规律式式2: 式2:; 式中:Qr为辐射品质因子,即谐振峰Qr值,α为不对称因子,a和b均由至少两点表征数据Qr和α代入计算拟合的结果; 3基于上述2步骤的式1和式2: 当所述目标体系为多谐振耦合体系时,代入固有属性参数通过式1进行计算并通过Qr值的计算结果和调节目的对环境折射率变化值Δn进行调节以实现对Qr值的调控; 所述对环境折射率变化值Δn进行调节的方式包括对目标多谐振耦合体系所处液态体系或气氛环境进行调节和或更换; 当所述目标体系为非对称BIC体系时,根据调节目的对非对称BIC体系的纳米粒子进行选择性修饰处理,改变不对称因子α以实现对Qr值的调控; 当所述目标体系同时具有多谐振耦合体系和非对称BIC体系特征时,采用以上至少一种方式改变环境折射率变化值Δn和或不对称因子α以实现对Qr值的调控; 当所述目标体系为非对称BIC体系或含有非对称BIC体系特征时,根据式6的谐振峰吸光度表达式确定调控需求后通过式2对Qr值进行调控; 式6:; 式中:Abs为吸光度,x为系统最大吸收值并以1代入计算,Qr为辐射品质因子,Qn为非辐射品质因子,ω为零解耦状态下任一谐振子的频率,ωr为系统在没有损耗时的自然振荡频率; 此时所述目标体系含有非对称的纳米结构NP-a和纳米结构NP-b时所进行的; 所述纳米结构NP-a和纳米结构NP-b具有不同的结构宽度和或结构半径和或结构高度或空间相对位置,其中纳米结构NP-a的结构宽度和或结构半径和或结构高度大于纳米结构NP-b的结构宽度和或结构半径和或结构高度; 所述选择性修饰处理是在纳米结构NP-a和或纳米结构NP-b表面修饰形成局部折射率变化。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人西湖大学,其通讯地址为:310000 浙江省杭州市西湖区转塘街道石龙山街18号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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