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  • 描述了用于封盖机(13)的检查系统(14),该封盖机(13)被配置为将盖子(6)施加到包含可倾倒产品的包装(2)上,每个包装都设置有相应的闭合结构(5),该闭合结构(5)至少包括预施加在包装(2)的相应主壁(2b)上的套环(5a)并适于容纳...
  • 本公开内容涉及进行生物测定的方法。该方法包括确定由多种发光试剂与测试样本之间的反应产生的光强度的累积值。基于知识库,可以确定与多种生物测定对应的物质的存在和/或浓度。知识库通过确定由不同浓度的多种发光试剂与人体的测试样本之间的多次反应产生的...
  • 本发明涉及一种样本分析系统,所述样本分析系统带有透镜除雾设备。所述样本分析系统包括等离子体炬装置(200),其包括限定等离子体腔室(202)的主体和在所述等离子体腔室(202)中由所述主体支撑的等离子体炬(201)。等离子体炬(201)电联...
  • 本发明涉及大视野场景领域,提供了一种非线性光学大视野成像系统,包括光源系统、激光扫描系统及激光探测系统;光源系统用于发射激光;激光扫描系统包括聚焦透镜及振镜,振镜位于聚焦透镜与被测样品之间,聚焦透镜用于将激光聚焦到被测样品,振镜按照预设的扫...
  • 本发明涉及一种用于测定样品(2)中聚合物(1)的交联度的方法,所述方法包括以下步骤:将所述聚合物(1)暴露于源自辐射源(4)的近红外辐射(3),特别是使得所述近红外辐射(3)至少穿过所述聚合物(1)一次;确定测量值集,所述测量值集指示在测量...
  • 一种系统包含定子,以及安置在所述定子的水平表面上方的第一载体及第二载体。多个电磁线圈以阵列安置在所述水平表面下方。所述第一载体及所述第二载体各自包含布置成阵列的多个磁体且经配置以分别支撑第一衬底及第二衬底。控制器经配置以个别地供能给所述多个...
  • 本发明的目的是提供一种能够使试管流动通道和孔精确地对准的技术。本技术提供了一种微粒分选系统,包括:试管,包含微粒的液体流过试管;保持部,保持包括喷射液体的孔部的板;以及控制部,执行控制以改变保持部的位置,从而使得保持部基本上平行于喷射轴,其...
  • 本发明的铝构件的特性预测方法,具有:机械特性测定工序,对于未锻造的第一铝构件和锻造的多个第二铝构件,测定T6处理后的机械特性;Z因子算出工序,对于锻造加工中的第二铝构件,通过数值解析来求出在每个锻造加工步骤中的温度以及应变速度,使用求出的温...
  • 将微粒捕集到液体中的微粒采样装置包括:轴心方向的两端部开口的筒状的第一电极;在第一电极的轴心方向上延伸且在第一电极内与第一电极的内表面隔开间隔地配置的第二电极;向第一电极内供给液体,使液体贮存在绕第一电极的轴心的方向上的第一电极的内表面的一...
  • 本公开的目的在于提供一种不变更底盘测功机的机械构造而抑制共振/振动现象的底盘测功机。本公开的底盘测功机(1)的逆变器(4)包括:陷波滤波器(40),从旋转指令信号(S3)使包括底盘测功机1的机械固有频率的衰减对象频带的信号衰减而输出旋转指令...
  • 公开了一种借助测试装置(2)测试软管(4)的方法,其中,测试装置(2)具有第一测试接口(6)和第二测试接口(8),软管(4)连接至或将连接至这两个接口,其中,测试装置(2)具有介质供给(10),借助该介质供给,测试介质可流入软管(4)或从软...
  • 一种光学安装件,包括:第一光学固持器201,该第一光学固持器用于安装反射式第一光学器件214;以及光学选择器202,该光学选择器包括用于多个第二光学器件216、216a、216b的第二光学固持器229。第二固持器229可以被安装成绕选择轴线...
  • 一种从声音时间序列信号中提取特征的设备,所述设备包括:包括膜片和背板的电容麦克风,所述电容麦克风用于检测所述声音时间序列信号并输出特征信号,所述特征信号指示包含在所述声音时间序列信号中的数据的特征;DC信号发生器,用于生成DC电流信号,所述...
  • 角度传感器(1)具备:转子(2),具有沿径向延伸的多个凸起(11);基座(3);以及导线(4),被包覆。设于基座(3)的构造面(3a)的导线(4)形成沿径向具有多个起伏的平面形状,在轴线(x)方向上,凸起(11)与导线(4)对置。
  • 获得训练数据。所述训练数据包括:(a)指示从起始位置到目的地位置的路线的路线信息,其中路线包括多个路线段,所述多个路线段包括路线段的第一子集和路线段的第二子集;以及(b)描述一个或多个路线特性的路线特性信息。利用经机器学习语义路线规划模型来...
  • 披露了一种校准或以其他方式表征坐标定位机器的方法,该坐标定位机器具有可相对于第二平台移动的第一平台,其中,机器的几何学由模型参数集合来表征,并且其中,该方法包括:(a) 提供传感器,该传感器可操作以输出信号,该信号取决于第二平台的坐标系内的...
  • 一种用于测量具有两个平行的界面(13, 36)的晶片(12)的厚度的测量装置,具有测量干涉仪(42),其具有集光系统(46)和用于产生测量光束(56)的光源(44)。测量干涉仪(42)将测量光束(56)通过集光系统(46)指向晶片(12)。...
  • 本发明涉及一种用于确定物品、优选板形物品的折射率和/或壁厚的装置,所述装置包括用于太赫兹辐射的第一发送器和用于太赫兹辐射的第一接收器,其中,第一发送器构成为,沿着第一主射束方向发出太赫兹辐射到物品上,且第一接收器构成为,接收由第一发送器发出...
  • 披露了一种用于在坐标定位机器(10)内支撑制品(30)的支撑布置(90),该支撑布置用于校准或以其他方式表征该机器(10)的方法。支撑布置(90)被适配成经由串联布置在机器(10)与制品(30)之间的多个运动学联接(81, 82, 83)提...
  • 提供了一种用于将工件(9)装载到坐标定位机器(10)的工作体积(11)中的系统(20)。装载系统(20)包括支撑构件(30),工件(9)可支撑在该支撑构件上,并且该支撑构件可经由多个受引导的支承构件(31, 32, 33)分别沿着三个引导件...
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